Renishaw公司簡介：

雷尼紹

我們是一家性公司，擁有測量，運動控制，醫療，光譜學和制造方面的核心技能。

雷尼紹是世界的工程和科學技術公司之一，擁有精密測量和醫療方面的專業知識。

世界的坐標測量機測量系統

40多年來，雷尼紹一直致力于創新，這些創新已成為工業計量領域的里程碑。從初的觸發式測頭和電動分度頭，可重復的測針更換和模塊化掃描系統，用于坐標測量機（CMM）的雷尼紹傳感器是行業標準。

5軸測量產品系列代表了有史以來測量能力的大變化，提供了*的速度和測量靈活性，同時避免了傳統技術固有的速度與精度折衷。無論是REVO掃描還是PH20觸發，Renishaw的5軸系統都可以  提高測量吞吐量，縮短交付周期，讓制造商更全面地了解產品質量。

REVO 5軸測量系統

甲REVO ®  系統提供在一個單一CMM高性能掃描，非接觸式檢查和表面光潔度分析。

多傳感器5軸測量系統

REVO系統使用同步運動和5軸測量技術，以大限度地降低CMM運動在超高測量速度下的動態影響。

這是通過讓REVO-2頭在CMM以線性慢速移動的同時進行快速要求的運動來實現的。使用靈活的*傳感探頭進一步增加了系統的準確性和性能。可拆卸探頭系統與低成本更換器配合使用，可提供更高的系統靈活性。

SFP2 REVO-2族樹

速度，準確性，敏捷性

作為一個新的安裝或升級認可的REVO ®五軸測量系統提供：

表面光潔度測量和尺寸檢查。

節省15％至50％的循環時間。

大化吞吐量，小化資本投資。

REVO速度+準確度

雷尼紹5軸CMM測量解決方案

REVO-2探頭選項

RSP2

RSP2

RSP2是于REVO系統的輕型*傳感探頭，能夠進行2D掃描（x，y）和3D觸摸觸發測量

RSP3縮略圖

RSP3

RSP3系列補充了RSP2探頭，為REVO系統提供3D掃描（x，y，z）和曲柄觸控功能。它用于3軸掃描，例如在測量期間具有固定的REVO頭角。

SFP2探針

SFP2

使表面光潔度檢測成為CMM測量程序的一個組成部分，自動切換掃描和表面光潔度能力

RSP3-6縮略圖

RSP3-6

RSP3-6提供了增強的功能，可以訪問深孔并檢查大型零件中的特征。它配有一系列手寫筆支架，適用于需要直線和曲柄擴展的應用，可用于觸發式和2D掃描應用。

RVP探針

RVP

REVO-2 RVP探頭為REVO系統的現有觸發式觸發，高速觸覺掃描和表面光潔度測量功能增加了非接觸式檢測功能，可對零件和功能進行全面檢測，不適合進行觸覺測量。

控制器系統

5軸測量技術嵌入在Renishaw的UCC S5 CMM控制器中，該控制器構成了5軸測量系統的基礎 - 3個機床軸加上2個旋轉軸。UCC S5內的技術提供*的運動命令，同步和5軸測量功能。

為了實現高掃描速度，5軸測量系統必須具有*集成的控制回路。這是使用雷尼紹的UCC S5和SPA3系統實現的。

有關控制器系統的更多信息

REVO系統更換機架

REVO-2更換架

REVO系統更換架設計用于在CMM上更換自動探頭和測針架。該系統的主要目的是通過使用和存儲更長的測針和大型星形測針配置來提高靈活性。

為實現計量，應使用REVO更換端口（RCP TC-2，RCP TC-3和RCP2）和靈活更換支架（FCR25）自動更換REVO探頭和測針支架。這些端口安裝在模塊化機架系統（MRS2）上。

有關RCP TC-2，RCP TC-3和RCP2的更多信息。

更快的校準

基準球上的REVO校準

傳統CMM系統的校準會消耗相當多的時間，否則可能會用于零件測量。使用安裝在桌面上的球體，REVO-2的簡單實用校準技術可確定實際的頭部和探頭幾何形狀，從而可以在單個操作中進行任何位置的測量。

在CMM僅用于單個或有限數量的部件的情況下，通常可以使用10個頭部方向。這些位置的校準時間可能需要大約30分鐘。REVO-2僅需20分鐘。

如果CMM用于多個部件，通常可能有40個頭部方向，大大增加了校準所需的時間到大約兩個小時。同樣，REVO-2只需要20分鐘。

由于校準過程定期重復，為了遵守質量程序或在探測器崩潰后，這些時間節省累積。

5軸測量技術和應用

雷尼紹的5軸高速，高精度測量技術具有廣泛的優勢，可顯著提高產量。

有關REVO測量技術的更多信息。

應用實例

使用REVO進行閥座測量

閥座和導向測量

快速測量和分析閥座和導軌

使用REVO進行葉片測量

刀片測量

刀片工具包 - 用于刀片檢查和分析的Renishaw工具

案例研究和應用筆記

傳單：用于大型氣缸體檢測的5軸多傳感器解決方案

傳單：更快的氣缸蓋檢測

案例研究：Escribano - 速度和精度測量

案例研究：ANT Industries - “REVO沒有其他選擇，沒有別的選擇”

案例研究：TURBOCAM“高五”革命性的五軸測量技術

延長保修

為了 您的安全，在購買后的前3個月內，您的新CMM產品可享受3年保修。您的供應商。

SP25M

SP25M的直徑僅為25 mm，配有一系列掃描和觸發模塊，是世界上較緊湊，較通用的掃描探針系統。

SP25M +模塊

SP25M在單個外殼中包含兩個傳感器。用戶可以選擇五種掃描模塊（可以攜帶長度從20 mm到400 mm的M3測針）和一個與雷尼紹TP20系列探頭模塊兼容的適配器模塊。此功能可在單個探頭系統中進行掃描和觸發式探測。

SP25M的緊湊尺寸和自動連接安裝使其與PH10M PLUS / PH10MQ PLUS和PH6M探頭兼容。它也可以安裝在多線延長桿上。這些組合共同提供了的觸及范圍和部件功能。

有關SP25M中的技術的詳細信息，請參閱SP25M技術文章。

特點和好處

世界上小的掃描探頭，直徑僅為25 mmMRS帶有兩個FCR25三端口單元[180]

一系列FCR25模塊更換系統，每個系統允許任何SP25M系統元件存儲在每個端口中。

SM25掃描模塊和TM25-20 TTP模塊適配器可以直接對接到FCR25端口

SH25掃描筆座需要PA25-SH適配器

TP20模塊可以使用PA25-20適配器進行存儲

的計量學 - 隔離光學傳感和三階多項式補償

五個模塊可在各種觸針長度（大400 mm）內提供性能

兩個傳感器合二為一 - 掃描和觸發

防撞保護和簡單的手寫筆更換

快速簡單的探頭校準周期

適用于輪廓和形狀測量

適用于電動分度頭，具有更大的靈活性和更短的掃描周期時間

簡單而堅固的設計可提供更高的可靠性 - 無需電機或鎖定機構

SP25M模塊和手寫筆支架

SP25M系統

一系列模塊套件允許SP25M用戶隨著時間的推移建立其探測能力。

每個SM25-＃掃描模塊都在增益和彈簧剛度方面進行了優化，以適應的測針長度范圍。對于每個模塊，都有一個匹配的SH25-＃手寫筆支架。

SH25-3和SH25-4測針夾由一個固定的碳纖維桿構成，M3針安裝在該桿上，選擇該桿以提供正確的工作長度。

雖然SP25M在使用SM25-1 / 2/3/4/5掃描模塊和原始標準測針支架（SH25-1 / 2/3/4/5）時可以帶有曲柄（非直線）測針配置，可實現計量需要更大偏移量的雷尼紹推薦SH25-2A / 3A / 4A系列測針架，專為滿足此類測針布置帶來的挑戰而設計。

熱銷型號：

A-2054-4657探針

A-5004-7606探針

A-5004-7604探針

A-2064-0002探針

LP2 A-2063-6098探針

RSP2探頭

RSP3探頭

SFP2探頭

RSP3-6探頭

RVP探頭

TP20探頭

TP200探頭

TP6探頭

TP6A探頭

TP7M探頭

SM25-1掃描探針

SM25-2掃描探針

SM25-3掃描探針

SM25-4掃描探針

SM25-5掃描探針

TM25-20 TTP適配器模塊

FCR25端口單元

FCR25端口適配器插件套件

PH10 PLUS電動分度頭

RTP20自動探頭

PHS-2伺服頭

德國Renishaw A-2054-4657探針 上海

德國Renishaw A-2054-4657探針 上海